本发明涉及芯片测试技术领域中的一种检测芯片损坏的方法和系统，包括以下步骤：生成测试源数据，并将测试源数据写入初始化通过DDR芯片的起始地址上，得到中间源数据；获取初始化通过DDR芯片的地址编号，并根据地址编号的顺序，将前一地址编号的存储地址内的中间源数据复制到后一地址编号的存储地址上，直至中间源数据复制到终止地址上；获取终止地址上的中间源数据，得到目标数据；比对目标数据与测试源数据，判断初始化通过DDR芯片是否损坏，具有测试时间短的优点，突破了在nor flash速度、CPU主频和FT测试时间的要求下，导致DDR不能全速、全容量以及大容量测试的瓶颈。