一种用于芯片的检测系统及其检测方法
公开
摘要
本发明公开了一种用于芯片的检测系统及其检测方法，包括工作台、以及设置于工作台上表面一侧的控制柜，所述工作台的上表面设置有驱动箱，所述驱动箱的上表面设置有可转动的转动盘，且所述驱动箱内设置有用于驱动转动盘进行90°间歇式转动的驱动机构，所述转动盘的上表面设置有四个呈圆周阵列分布的用于对芯片进行固定的固定机构，本发明自动化程度高，操作简单，对工人技术要求低，通过四个固定机构的设置，实现了不间断的对芯片进行检测，大大提高了检测效率，从而大大提高了生产效率，同时大大节省工人的劳动强度。
基本信息
专利标题 ：
一种用于芯片的检测系统及其检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295957A
申请号 ：
CN202111532592.8
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨伟荣
申请人 ：
江苏丹翔可控硅科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省镇江市丹阳市开发区金陵西路
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202111532592.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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