本发明属于智能芯片检测装置技术领域，具体公开了一种用于智能芯片的检测装置，包括工作台，所述工作台的上端靠近中心位置固定连接有底座，所述工作台与底座的内部设置有夹持机构，所述夹持机构的上侧安装有测量机构，所述工作台的内部设置有传动机构，所述夹持机构包括开设在工作台内部的两组第一安装槽，所述第一安装槽的内部活动连接有第一螺纹杆，所述工作台的前端靠近第一螺纹杆的位置固定连接有第一电机。本发明通过夹持机构、测量机构、传动机构之间的配合使用，可以对芯片进行定位夹持与长宽度的测量，而通过传统机构检测电路效率提高，而整个装置操作比较简单，效率高。