DRAMLess SSD NAND编程出错的优化方法、装...
实质审查的生效
摘要
本发明实施例公开了一种DRAMLess SSD NAND编程出错的优化方法、装置及介质,其中方法包括:将待编程数据写入SSD的写缓存区;从写缓存区将待编程数据发送至NAND的缓冲寄存器中;将NAND的缓冲寄存器中的待编程数据发送至NAND的存储数据的物理阵列中进行编程;当待编程数据发送至NAND的缓冲寄存器后立即释放SSD的写缓存区中的待编程数据;当NAND的存储数据的物理阵列编程完成后反馈编程是否成功的状态;当NAND物理阵列编程出错时将NAND的缓冲寄存器中的待编程数据重新发送至NAND的存储数据的物理阵列中进行编程。本发明针对DRAMLess的SSD,通过NAND的缓冲寄存器作为编程出错时的数据备份恢复区,既保障了DRAMLess这类SSD的写性能要求,又保障了数据可靠性。
基本信息
专利标题 :
DRAMLess SSD NAND编程出错的优化方法、装置及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114420192A
申请号 :
CN202210060609.2
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-01-19
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王猛徐伟华韩道静
申请人 :
苏州忆联信息系统有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区星湖街328号7栋4楼001
代理机构 :
深圳市精英专利事务所
代理人 :
李燕娥
优先权 :
CN202210060609.2
主分类号 :
G11C29/44
IPC分类号 :
G11C29/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
G11C29/44
错误指示或识别,例如,修复
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/44
申请日 : 20220119
申请日 : 20220119
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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