本发明涉及一种基于量子点荧光效应的光学元件亚表面缺陷三维重构方法。为解决现有技术亚表面缺陷处荧光强度弱、三维信息获取不完整的问题。本发明步骤为：步骤1）选择适合标记光学元件的量子点；步骤2）制备两组试件，对试件进行区域划分；步骤3）将获取到亚表面缺陷处荧光切片中的色值转换成亮度，对图像进行灰度化处理；步骤4）对获取到的亚表面缺陷荧光切片图像恢复原有图像中的灰度值；步骤5）对缺陷边缘的提取，最后选择八邻域目标跟踪将缺陷进行连接；步骤6）对提取后的光学元件亚表面缺陷荧光切片图像，每两层进行读取，构成三维体数据场，在三维数据场中提取等值面，并进行连接，完成光学元件亚表面缺陷的三维重建。