一种X线探测器用TFT面板测试系统及方法
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种X线探测器用TFT面板测试系统及方法，涉及TFT面板测试技术领域，其包括，面板供电模块，用于为待检测TFT面板提供检测电信号；控制模块，电连接于面板供电模块，向面板供电模块输出供电信号，面板供电模块接收到供电信号后，响应出检测电信号，待检测TFT面板接收并响应检测电信号，向控制模块发出图像信号；X线发生模块，设置在待检测TFT面板上方，控制连接于控制模块，向待检测TFT面板发出X射线；显示模块，电连接于控制模块，接收并响应图像信号，用于读取并显示检测图像。本申请具有便于对X射线探测器用途的TFT面板进行完整测试的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种X线探测器用TFT面板测试系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114486951A
申请号 ：
CN202210122984.5
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-02-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘金铭焦启刚蒲燕
申请人 ：
上海烁泰科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区鹿吉路361、365号5幢1楼C区-1
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210122984.5
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01T1/202
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20220209
申请日 : 20220209
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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