探测面板及其制备方法和平板探测器
公开
摘要
本公开提供了一种探测面板，包括：衬底基板，衬底基板上设置有多条栅线、多条信号探测线和多个像素单元，像素单元内设置有薄膜晶体管和光学传感器，薄膜晶体管的栅极与对应的栅线电连接，薄膜晶体管的第一电极与对应的信号探测线电连接，薄膜晶体管的第二电极与位于同一像素单元内光学传感器的第三电极电连接；多个像素单元包括至少一个探测用像素单元和至少一个标记用像素单元，光学传感器背向衬底基板的一侧设置有第一偏置电压线和第二偏置电压线，第一偏置电压线与第二偏置电压线相交设置且彼此绝缘，探测用像素单元内光学传感器的第四电极与对应的第一偏置电压线电连接，标记用像素单元内薄膜晶体管的第二电极与对应的第二偏置电压线电连接。
基本信息
专利标题 ：
探测面板及其制备方法和平板探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114566510A
申请号 ：
CN202011363879.8
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2020-11-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
占香蜜王振宇侯学成
申请人 ：
京东方科技集团股份有限公司;北京京东方传感技术有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区酒仙桥路10号
代理机构 ：
北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴俣
优先权 ：
CN202011363879.8
主分类号 ：
H01L27/146
IPC分类号 ：
H01L27/146
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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