一种设备高度标定方法、装置、设备及存储介质
实质审查的生效
摘要

本申请公开了一种设备高度标定方法、装置、设备及存储介质,所述的方法包括:获取检测设备与激光设备之间的标准高度差,标准高度差为预先配置的;获取激光设备位于待检测工件上方第一预设位置的情况下,激光设备相对于预设标定原点在竖直方向上的第一距离和激光设备在第一预设位置的第一显示数据;将标准高度差、第一距离和第一显示数据进行加和处理,得到检测设备处于第一状态时相对于预设标定原点的第一高度,第一状态为检测设备的下表面与待检测工件的上表面接触的状态;将第一高度和预设检测距离作差处理,得到检测设备检测待检测工件时相对于预设标定原点的相对高度;本申请自适应性强且灵活性高,测量精度高,节约成本,生产效率高。

基本信息
专利标题 :
一种设备高度标定方法、装置、设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485435A
申请号 :
CN202210126011.9
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-02-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
燕福生段永超
申请人 :
苏州佳祺仕信息科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区昆仑山路2号
代理机构 :
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 :
郑华洁
优先权 :
CN202210126011.9
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  G01B11/14  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/06
申请日 : 20220210
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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