基于点云图像转换的玉米株高茎粗测量方法及装置
公开
摘要
本发明提供一种基于点云图像转换的玉米株高茎粗测量方法及装置，其中基于点云图像转换的玉米株高茎粗测量方法，包括：获取不同玉米品种在不同生长周期的原始点云数据；将所述原始点云数据处理为上层玉米植株点云数据和有效区域玉米点云数据；对所述有效区域玉米点云数据进行点云图像转换茎叶分割处理，得到玉米茎秆点云数据和非茎秆点云数据；基于对所述上层玉米植株点云数据、所述玉米茎秆点云数据和所述非茎秆点云数据的测量处理，得到玉米株高和茎粗。本发明能够提高测量玉米株高和茎粗的效率和精度，也适用于不同生长期、不同玉米品种的玉米株高和茎粗测量，不仅能够实现连续监测，也降低了人力成本。
基本信息
专利标题 ：
基于点云图像转换的玉米株高茎粗测量方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114581450A
申请号 ：
CN202210134632.1
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张漫苗艳龙李寒彭程季宇寒张振乾李民赞
申请人 ：
中国农业大学
申请人地址 ：
北京市海淀区圆明园西路2号
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
任少瑞
优先权 ：
CN202210134632.1
主分类号 ：
G06T7/10
IPC分类号 ：
G06T7/10 G06T7/60 G06T7/62 G06V10/762 G06K9/62 G01B11/06 G01B11/08 G01S17/89
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/10
分割；边缘检测
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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