一种基于太赫兹固态源的干涉相位检测系统
实质审查的生效
摘要

本发明的一种基于太赫兹固态源的干涉相位检测系统,包括两个固体太赫兹微波源并列设置对应形成两个光路;混频器包括两个,分别设置在相位差待测区域的一侧,呈对立设置;第一光路为第一太赫兹固体源的光源出光经透镜汇聚后经反射镜反射,经分束器后一部分反射后再经另一个分束器透射到达混频器一,另一部分透射进去待测区域后经反射镜反射再经分束器透射至混频器二方向;第二光路为第二太赫兹固体源的光源出光经透镜汇聚后经反射镜反射,经分束器后一部分反射后再经反射镜和分束器进入混频器一,另一部分直接经分束器反射后至混频器二。本发明采用太赫兹源代替传统的激光,可使得干涉相位诊断系统精度高、体积紧凑、易维护、稳定性高。

基本信息
专利标题 :
一种基于太赫兹固态源的干涉相位检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114383741A
申请号 :
CN202210138950.5
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2022-02-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
毛文哲卫子安谢锦林丁卫星
申请人 :
中国科学技术大学
申请人地址 :
安徽省合肥市金寨路96号
代理机构 :
合肥天明专利事务所(普通合伙)
代理人 :
苗娟
优先权 :
CN202210138950.5
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 9/02
申请日 : 20220215
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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