一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统；属于光学相住测量技术领域；其技术要点包括安装架，所述安装架上设置有显微镜支架，在显微镜支架上通过升降机构活动连接有载物台；在载物台下方设置有与载物台通光孔相对应的非偏振分束镜；在显微镜支架侧边的安装架上设有朝向非偏振分束镜的LED光源，在LED光源与非偏振分束镜之间设置有第一光学4F系统；在显微镜支架上方的安装架上设置有与载物台通光孔相对应的相机，在相机与载物台通光孔之间设置有与第一光学4F系统相互垂直的第二光学4F系统；本实用新型旨在提供一种结构紧凑、成本较低且使用方便的基于光强传输方程的非干涉相位测量系统；用于相位测量。
基本信息
专利标题 ：
一种基于光强传输方程的非干涉相位测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020179247.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-18
授权号 ：
CN211453356U
授权日 ：
2020-09-08
发明人 ：
邓定南江泽标郑兆聪
申请人 ：
嘉应学院
申请人地址 ：
广东省梅州市梅江区梅松路160号
代理机构 ：
广州海心联合专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
罗振国
优先权 ：
CN202020179247.5
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41 G01J9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2020-09-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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