一种AgMg合金表面MgO膜透射电镜试样制备方法
公开
摘要

本发明公开了一种AgMg合金表面MgO膜透射电镜试样制备方法,属于透射电镜试样技术领域,包括以下步骤:将AgMg合金带材进行清洁处理;对清洁后的AgMg合金带材进行轧制和冲裁,制得圆片;采用双喷减薄仪对圆片进行减薄,制备成满足透射电镜分析用样品;对经过双喷减薄的样品进行活化处理,然后对处理过的样品再进行单面的离子减薄,最终获得的透射电镜分析用样品,一面是氧化层,另一面是合金,试样的最薄区就是氧化层;本发明在现有的透射电镜试样制备方法基础之上,针对AgMg合金表面MgO薄层的透射电镜分析试样制备特点和要求之后,提出了一种多工序、多工艺组合的适用于AgMg合金表面MgO薄层的透射电镜分析试样的制备方法。

基本信息
专利标题 :
一种AgMg合金表面MgO膜透射电镜试样制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114594117A
申请号 :
CN202210144780.1
公开(公告)日 :
2022-06-07
申请日 :
2022-02-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王彬孙胃涛姚新玲陈永彬王宇灿
申请人 :
滨州学院
申请人地址 :
山东省滨州市滨城区黄河五路391号
代理机构 :
青岛华智行远知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
付素心
优先权 :
CN202210144780.1
主分类号 :
G01N23/2202
IPC分类号 :
G01N23/2202  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2202
样品制备
法律状态
2022-06-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332