一种深度测量系统及方法
实质审查的生效
摘要

本申请提供了一种深度测量系统及方法,处理器获取分辨率需求指标并生成相应的液晶状态设置指令;发射模组通过斑点投影器提供输出光,以及通过液晶按照液晶状态设置指令触发相应物理状态后向目标物体投射发射光;采集模组通过TOF像素阵列采集反射光信号,并根据反射光信号生成电信号;处理器基于电信号计算目标物体的深度值。通过本申请方案的实施,根据深度测量场景所要求的分辨率适应性调整发射模组中液晶的物理状态,以改变发射光的形态来弥补TOF像素的光信号采集局限性,从而使得深度测量系统在近距和远距均能保证较高的测量精度。

基本信息
专利标题 :
一种深度测量系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114442107A
申请号 :
CN202210151712.8
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-02-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
万小芳邓坚
申请人 :
深圳锐视智芯科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南环路26号深圳湾科技生态园5栋D806
代理机构 :
深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)
代理人 :
廖厚琪
优先权 :
CN202210151712.8
主分类号 :
G01S17/08
IPC分类号 :
G01S17/08  G01S17/894  G01B11/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统,例如,激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 17/08
申请日 : 20220218
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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