一种全偏振调控极弱磁场检测装置
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种全偏振调控极弱磁场检测装置,包括圆偏振泵浦光路、线偏振检测光路、磁屏蔽和磁补偿系统、光场模式检测系统、光电探测器检测系统以及数据采集和处理系统,本发明基于相位矢量化偏振模式调控方法和微弱磁场信号检测技术,光束经过相位矢量化后可以对线偏振光进行单点调制,在光束中九个不同位置生成偏振方向不同的混合线偏振矢量涡旋光束,达到了光束的像素级控制;通过对检测光的超高精度调控,提高了磁场检测的灵敏度和检测精度;采用单检测光束解决了系统级联时相互影响、强耦合的的问题,系统稳定性好、可靠性强、分辨率高。

基本信息
专利标题 :
一种全偏振调控极弱磁场检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114527413A
申请号 :
CN202210161335.6
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-02-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王冠学康翔宇李月李仔艳孙晓婕高秀敏
申请人 :
上海理工大学
申请人地址 :
上海市杨浦区军工路516号
代理机构 :
上海邦德专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘旭章
优先权 :
CN202210161335.6
主分类号 :
G01R33/02
IPC分类号 :
G01R33/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/02
申请日 : 20220222
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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