基于相控阵超声和背散射法的拉长晶晶粒尺寸确定方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种基于相控阵超声和背散射法的拉长晶晶粒尺寸确定方法，其包括：计算拉长晶粒纵波背散射系数的一般解，建立适用于相控阵超声数据的纵波背散射模型并计算纵波背散射系数，基于相控阵超声数据的纵波背散射模型，结合背散射信号测量实验，利用最小二乘法提取最优晶粒半径解，反演得到晶粒尺寸。本发明可充分利用相控阵超声提供的同时多角度扫查能力，减少评价结果的不确定性，实现拉长晶粒更可靠的定量分析，只需要探头在材料一个面内采集数据，相比于传统超声更可靠和准确。
基本信息
专利标题 ：
基于相控阵超声和背散射法的拉长晶晶粒尺寸确定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114544445A
申请号 ：
CN202210172948.X
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李宇中关雪飞刘雨
申请人 ：
北京领示科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区万柳中路11号2层2-294号
代理机构 ：
北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王冬杰
优先权 ：
CN202210172948.X
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02 G01N29/04 G01N29/44 G01N29/50
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 15/02
申请日 : 20220224
申请日 : 20220224
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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