一种光学相干振动测量系统的处理系统
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种光学相干振动测量系统的处理系统,包括:数据采集模块,基于光学相干振动测量系统对干涉光谱信号进行采集;当待检测结构发生振动时,对带有干涉信息的光进行采集,得到光谱的干涉信号;数据处理模块,采用FPGA对干涉信息进行处理,通过分析干涉条纹的频率变化信息获取振动信息;当结构发生振动时,光学相干振动测量系统中的参考臂和样品臂之间的光程差不断发生变化,导致干涉信号的振荡频率变化,通过分析干涉信号振荡频率的变化信息得到结构的振动位移信息;数据存储模块,用于将振动信息保存在片外的SDRAM中;数据显示模块,用于对存储的振动信息进行显示,以直观得到待检测结构的振动信息。该系统有利于提高振动测量数据处理的效率。
基本信息
专利标题 :
一种光学相干振动测量系统的处理系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509153A
申请号 :
CN202210178629.X
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-02-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
钟舜聪许令鸿李劲林林杰文张秋坤黎昕婷谢宇昆
申请人 :
福州大学
申请人地址 :
福建省福州市闽侯县福州大学城乌龙江北大道2号福州大学
代理机构 :
福州元创专利商标代理有限公司
代理人 :
张灯灿
优先权 :
CN202210178629.X
主分类号 :
G01H9/00
IPC分类号 :
G01H9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01H
机械振动或超声波、声波或次声波的测量
G01H9/00
应用对辐射敏感的装置,例如光学装置,测量机械振动或超声波、声波或次声波
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01H 9/00
申请日 : 20220224
申请日 : 20220224
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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