点云配准方法、装置、电子设备及计算机存储介质
公开
摘要
本公开实施例公开了一种点云配准方法、装置、设备及计算机存储介质，其中，该方法包括：获取具有部分重叠数据点的两帧点云数据；针对每帧点云数据，根据每一数据点的初始特征，构建每一数据点的第一尺度特征；基于每一数据点的初始特征，进行至少一个层级的采样处理，得到在每一层级对应的多个采样点和每一采样点对应的局部特征；基于在每一层级对应的多个采样点和每一采样点对应的局部特征，确定每一数据点在每一层级的第二尺度特征；基于两帧点云数据中的每一数据点的第一尺度特征和第二尺度特征，实现两帧点云数据之间的配准。
基本信息
专利标题 ：
点云配准方法、装置、电子设备及计算机存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114596345A
申请号 ：
CN202210178677.9
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-02-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
潘亮蔡中昂赵海宇伊帅刘子纬
申请人 ：
商汤国际私人有限公司;南洋理工大学
申请人地址 ：
新加坡广场05-318号，海滨路7500A座
代理机构 ：
北京派特恩知识产权代理有限公司
代理人 ：
崔晓岚
优先权 ：
CN202210178677.9
主分类号 ：
G06T7/33
IPC分类号 ：
G06T7/33 G06T3/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/10
分割；边缘检测
G06T7/30
确定图像校准的变换参数，例如图像配准
G06T7/33
使用基于特征的方法
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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