一种低纹理环境下基于点线特征的视觉SLAM方法
公开
摘要
一种低纹理环境下基于点线特征的视觉SLAM方法，涉及计算机视觉技术领域。本发明在ORB‑SLAM2系统上进行扩展，提取图像中的点特征和线特征，在普通的线特征基础上筛选出建筑结构线特征，得到点特征和建筑结构线特征；利用点特征和建筑结构线特征进行特征匹配，使用RANSAC算法剔除误匹配对；根据相邻帧推导出的重投影误差模型估计相机位姿；顺次执行后端优化与回环检测线程，从而提高系统在低纹理场景中的稳定性和鲁棒性，最终实现面向低纹理环境下的基于点线特征的视觉SLAM方法。
基本信息
专利标题 ：
一种低纹理环境下基于点线特征的视觉SLAM方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114627309A
申请号 ：
CN202210241165.2
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-03-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
唐新星刘新刘忠旭
申请人 ：
长春工业大学
申请人地址 ：
吉林省长春市延安大街2055号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210241165.2
主分类号 ：
G06V10/44
IPC分类号 ：
G06V10/44
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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