基于DevOps的质量分析方法、系统、设备及介质
公开
摘要

本发明提供一种基于DevOps的质量分析方法、系统、设备及介质,具体涉及软件开发测试领域,该方法通过获取待测的软件程序,对软件程序所涉及的源代码进行静态代码扫描,生成静态分析数据;根据静态分析数据对流水线进行配置,直至流水线涉及的源代码打包部署到相应的测试环境;调用各个度量测试工具对源代码进行自动化测试,确定软件程序测试的第一度量数据,第一度量数据包括单元测试结果数据与性能测试结果数据;对各种异构的第一度量数据与静态分析数据进行ETL处理,确定数据处理后的第二度量数据;通过分析第二度量数据的度量指标、维度类型以及度量需求生成不同格式的质量度量报表予以发布,提高了质量度量报表的准确性、生成效率与通用性。

基本信息
专利标题 :
基于DevOps的质量分析方法、系统、设备及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114625648A
申请号 :
CN202210249615.2
公开(公告)日 :
2022-06-14
申请日 :
2022-03-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王晓虎冉小龙
申请人 :
广域铭岛数字科技有限公司;浙江吉利控股集团有限公司
申请人地址 :
重庆市渝北区金开大道西段106号10幢24层
代理机构 :
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 :
唐勇
优先权 :
CN202210249615.2
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-06-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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