一种进位链延时测量校准方法及装置
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种进位链延时测量校准方法及装置,包括:在设定和校验温度后,通过可调延时单元接收输入信号,形成延时信号;通过延时进位链单元接收所述延时信号,利用所述延时进位链单元内部的n个延时单元逐一对所述延时信号进行延时;通过控制单元调整所述可调延时单元的延时时长,并对所述延时进位链单元内的n个抽头在采样时刻点进行采样,并通过采样结果获取任一所述延时单元的延时时长。本发明所述的方法将传统的样本统计学的方式转换为可调延时单元的延时时长计算,在可调延时单元精度足够的前提下,能够有效提升进位链延时测量校准精度和测量速度。

基本信息
专利标题 :
一种进位链延时测量校准方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114355174A
申请号 :
CN202210263546.0
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-03-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈永邬刚
申请人 :
杭州加速科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-1号5G创新园J1层-103M
代理机构 :
深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李兴生
优先权 :
CN202210263546.0
主分类号 :
G01R31/317
IPC分类号 :
G01R31/317  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/317
••数字电路的测试
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/317
申请日 : 20220317
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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