用于芯片退火的退火装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种用于芯片退火的退火装置,其包括承载盘、压平环和多个凸体结构,承载盘包括芯片放置槽,芯片放置槽用于容纳芯片,压平环具有通气孔、相对的第一表面和第二表面,通气孔贯穿第一表面和第二表面,压平环设置于芯片放置槽内,多个凸体结构设置于压平环的第一表面上,用于接触芯片。借此设置,压平环通过多个凸体结构向芯片施加压力,以使得芯片在被加热前就因受到压平环施加的压力而被压平,改善因为芯片翘曲与变形造成的加热不均,并且,多个凸体结构仅接触芯片的周围无效区,可以避免损伤芯片的薄膜层,保证芯片性能。
基本信息
专利标题 :
用于芯片退火的退火装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114530403A
申请号 :
CN202210302697.2
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-03-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
贺照纲
申请人 :
鋐源光电科技(厦门)有限公司
申请人地址 :
福建省厦门火炬高新区(翔安)产业区建业楼B座701室
代理机构 :
厦门加减专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
马垚
优先权 :
CN202210302697.2
主分类号 :
H01L21/67
IPC分类号 :
H01L21/67
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/67
申请日 : 20220324
申请日 : 20220324
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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