本发明公开了一种利用荧光衰减曲线次峰位出现时间结合SVM算法测定污染物的方法，所述方法包括控制ICCD启动并利用采样时窗对荧光信号瞬态信息进行采集；ICDD采集到的荧光图像的每一个像素点都可以看作是一个时间通道，记录一组离散的激光诱导荧光信号；从荧光强度最大值处截取变化曲线，就可以得到荧光衰减曲线；利用荧光寿命衰减曲线，找寻峰值，记录次峰位出现时间相对于荧光强度最大值出现时间的滞后时间，将平均荧光寿命参数和次峰位出现时间作为特征向量，利用SVM算法识别污染物种类。本发明针对多组分化合物，引入次峰位出现时间为特征参数，联合平均荧光寿命作为特征向量，结合SVM算法，可以有效提高污染物识别率。