具有高计数率的可见光及近红外光短波段单光子探测器
授权
摘要
本实用新型提供了一种具有高计数率的可见光及近红外光短波段单光子探测器，包括单光子信号探测模块和雪崩信号处理模块；所述单光子信号探测模块的输出端与所述雪崩信号处理模块的输入端相连；所述单光子信号探测模块包括工作在盖革模式下的雪崩光电二极管和温控模块；所述雪崩信号处理模块包括衰减电路、延时电路、加法运算器和过零甄别器；雪崩信号处理模块的输入端分别为衰减电路、延时电路的输入端；衰减电路的输出端与加法运算器的同相输入端电连接；延时电路的输出端与加法运算器的反相输入端电连接；加法运算器的输出端与过零甄别器的输入端电连接；过零甄别器输出数字信号。本实用新型可以更加清晰直观地以数字化的形式来传递量子信息。
基本信息
专利标题 ：
具有高计数率的可见光及近红外光短波段单光子探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220801356.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-04-08
授权号 ：
CN216668998U
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
薛涵周梦瑶周思雨董云亮马逸鸥马凯李彦茹梁皓东吴青林
申请人 ：
华中师范大学
申请人地址 ：
湖北省武汉市珞喻路152号
代理机构 ：
武汉开元知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄行军
优先权 ：
CN202220801356.5
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2022-06-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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