一种波长调谐自相关测量系统
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
一种用于测量波长可调谐的超短激光脉冲宽度的自相关测量系统，属于物理学领域中的一种以采用光学方法为特征的计量装置。采用具有非临界相位匹配优点的倍频晶体切向与工作方式；采用平移一直角反射镜作为相位匹配波长调谐机构和一种空心的扫描脉冲延迟机构，从而使本系统具有更高的脉宽分辨率，更大的扫描延迟范围，更好的扫描线性度和更大的满足相位匠配条件的基波光束发散角允限等优点。
基本信息
专利标题 ：
一种波长调谐自相关测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85101620A
申请号 ：
CN85101620.0
公开（公告）日 ：
1986-08-20
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85101620B
授权日 ：
1988-10-05
发明人 ：
徐炳德叶子青
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市斯大林大街112号
代理机构 ：
中科院长春专利事务所
代理人 ：
顾业华
优先权 ：
CN85101620.0
主分类号 ：
G01J9/00
IPC分类号 ：
G01J9/00 G04F13/02 G02B27/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
法律状态
1991-08-28 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1989-07-12 ：
授权
1988-10-05 ：
审定
1987-09-16 ：
实质审查请求
1986-08-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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