I型凹面光栅分度误差的检验方法
被视为撤回的申请
摘要
本发明公开了一种能定量检验I型凹面光栅分度误差的方法。它通过检验I型凹面光栅正负极光谱的衍射光束形成的干涉条纹，确定I型凹面光栅分度误差。
基本信息
专利标题 ：
I型凹面光栅分度误差的检验方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86107454A
申请号 ：
CN86107454
公开（公告）日 ：
1988-05-18
申请日 ：
1986-11-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴振华
申请人 ：
北京光学仪器厂
申请人地址 ：
北京市通县
代理机构 ：
北京市仪器仪表专利事务所
代理人 ：
王树政
优先权 ：
CN86107454
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
1990-07-25 ：
被视为撤回的申请
1988-05-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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