测量盲小孔与狭槽的三维测头和测量方法
公开
摘要
测量盲小孔与狭槽的三维测头和测量方法。本发明属长度计量与测试技术领域，结构由三维位移测量单元组成，其导向元件为波纹管或膜片三维弹性体，其优点在于可测量大于Φ0.2mm的通孔或盲孔和狭槽任意截面尺寸和形状误差，被测小孔深径比大于30∶1，本发明测头可装在三坐标测量机上，当测头接触工件时，测杆变形并带动弹性体变形，用电容测微仪测头测出固定于三维弹性体上的金属平板竖向位移值，就可以对工件瞄准和测量，用电容测微仪示值计算可修正测杆变形误差。
基本信息
专利标题 ：
测量盲小孔与狭槽的三维测头和测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1104765A
申请号 ：
CN93121289.8
公开（公告）日 ：
1995-07-05
申请日 ：
1993-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张国雄杨世民
申请人 ：
天津大学
申请人地址 ：
300072天津市南开区卫津路92号
代理机构 ：
天津大学专利代理事务所
代理人 ：
张锐
优先权 ：
CN93121289.8
主分类号 ：
G01B7/02
IPC分类号 ：
G01B7/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1995-07-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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