一种产生高精度、大测量范围微小位移的方法及系统
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明提供了一种产生高精度、大测量范围微小位移的方法及系统，其方法为：在悬臂梁上的任意一点x施加加载力F，在悬臂梁端点B点获得所需要的微小位移。其系统由支撑、底座和悬臂构成，其中，底座和悬臂平行，支撑与底座及悬臂垂直；底座、支撑、悬臂顺序连接并呈卧“U”形。本发明的优点是：精度高，可达到亚微米级，变形范围大，变形范围从几个微米到几十个毫米，从而实现大测量范围内的高精度测量；结构简单、容易实现；成本低廉。
基本信息
专利标题 ：
一种产生高精度、大测量范围微小位移的方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1776349A
申请号 ：
CN200510057428.0
公开（公告）日 ：
2006-05-24
申请日 ：
2005-12-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈伟民陈星雷小华朱永
申请人 ：
重庆大学;陈星
申请人地址 ：
400044重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
代理机构 ：
重庆弘旭专利代理有限责任公司
代理人 ：
侯懋琪
优先权 ：
CN200510057428.0
主分类号 ：
G01B5/00
IPC分类号 ：
G01B5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2008-03-19 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-07-19 ：
实质审查的生效
2006-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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