电光装置用基板及其检查方法、以及电光装置和电子设备

专利权的终止

摘要

不必使来自外部的探针进行接触等而实现得到充分的测定精度的检查。本发明的电光装置用基板，其特征在于，具备：相互交叉的多条扫描线和多条信号线；与上述多条扫描线和上述多条信号线的交叉对应地配置成矩阵状的多个像素电极；放大器，该放大器具备与上述信号线电连接的输入被供给上述像素电极的第1电位信号的第1端子、以及输入作为参考电位的第2电位信号的第2端子，并且被设置成，比较上述第1电位信号和上述第2电位信号的电位，当上述第1电位信号低时则使上述第1端子的电位进一步降低、而当上述第1电位信号高时则使上述第1端子的电位进一步增高地输出，并且，使上述多条信号线之中的指定的多条信号线与上述第1和第2端子中的至少一方对应；选择上述对应的指定的多条信号线之中的1条信号线的选择单元；以及将该被选择的信号线电连接到上述放

基本信息

专利标题：

电光装置用基板及其检查方法、以及电光装置和电子设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1794070A

申请号：

CN200510132346.8

公开（公告）日：

2006-06-28

申请日：

2005-12-21

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

石井达也

申请人：

精工爱普生株式会社

申请人地址：

日本东京都

代理机构：

北京市中咨律师事务所

代理人：

李峥

优先权：

CN200510132346.8

主分类号：

G02F1/136

IPC分类号：

G02F1/136 G02F1/133 H01L29/786 G09G3/36