检查探针、光学屏的检查装置、光学屏的检查方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种检查探针，在对数据线(22)的引出部(24)压接基板(210)时，在与数据线(22)的引出方向交叉的方向具有给定长度，并且在数据线(22)的引出方向具有给定间隔，设置多个布线部(300)。在布线部(300)中以给定间隔设置接触部(350)。接触部(350)在数据线(22)的引出部(24)中，在布线部(300)与数据线(22)交叉的状态下，从数据线(22)上压接时，与每隔给定间隔的数据线(22)接触，取得数据线(22)和布线部(300)的导通。
基本信息
专利标题 ：
检查探针、光学屏的检查装置、光学屏的检查方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1815304A
申请号 ：
CN200610006709.8
公开（公告）日 ：
2006-08-09
申请日 ：
2006-02-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
山岸英一前田晃利
申请人 ：
精工爱普生株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
汪惠民
优先权 ：
CN200610006709.8
主分类号 ：
G02F1/13
IPC分类号 ：
G02F1/13 G01R31/00 G01R1/00 G09F9/30
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的，例如单位液晶显示单元
法律状态
2008-09-03 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-10-04 ：
实质审查的生效
2006-08-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN1815304A.PDF
PDF下载
