半导体存储器及分析半导体存储器故障的方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
当计数器输出信号(104)采用与特定地址有关的预定值时，计数器控制器(10)停止刷新计数器(20)的计数器操作，以将计数器输出信号(104)保持在恒定值。维持刷新特定地址的状态，并且在该状态下完成故障分析。
基本信息
专利标题 ：
半导体存储器及分析半导体存储器故障的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1835119A
申请号 ：
CN200610067888.6
公开（公告）日 ：
2006-09-20
申请日 ：
2006-03-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
堂野千晶
申请人 ：
尔必达存储器股份有限公司
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
孙纪泉
优先权 ：
CN200610067888.6
主分类号 ：
G11C11/406
IPC分类号 ：
G11C11/406 G11C29/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C11/08
应用多孔存储元件的，例如：应用多孔磁芯存储器；应用把几个单独的多孔存储元件合并起来的板
G11C11/21
应用电元件的
G11C11/34
应用半导体器件的
G11C11/40
应用晶体管的
G11C11/401
形成需要刷新或电荷再生的单元的，即，动态单元的
G11C11/406
刷新或电荷再生周期的管理或控制
法律状态
2009-06-03 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-11-22 ：
实质审查的生效
2006-09-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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