厚膜电路性能检测台架

专利权的终止

摘要

厚膜电路性能检测台架，用于Eilog－05系列测井仪上使用的厚膜电路进行性能检测。包括：检测台架面板、厚膜电路块专用插板、辅助电路插板、计算机、示波器、标准信号源、高温烘箱七个部分。特征是：在检测台架面板内部的电路中有滤波电路组、继电器开关组、多路选择开关、输入输出信号比较器、增益控制器、A/D转换器、微处理器、通信接口控制器、DTB接口和交直流电源块电路。各单元电路以插件的方式，安装在面板内部的印刷线路板上。效果是：能完成Eilog－05系列测井仪上使用的厚膜电路的性能检测，可以筛选出质量合格的厚膜电路，提供性能优良的厚膜电路用于Eilog－05系列测井仪的制造和维修。

基本信息

专利标题：

厚膜电路性能检测台架

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720104288.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-04-17

授权号：

CN201035123Y

授权日：

2008-03-12

发明人：

钮宏毛小民

申请人：

中国石油天然气集团公司;中国石油集团测井有限公司

申请人地址：

100724北京市西城区六铺炕街6号

代理机构：

北京市中实友知识产权代理有限责任公司

代理人：

李玉明

优先权：

CN200720104288.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28