一种厚膜电路性能检测台架
授权
摘要
本实用新型公开了一种厚膜电路性能检测台架，包括检测台，所述检测台上设有用于厚膜电路板检测的温度检测工位，振动干扰可靠性检测工位以及电磁干扰检测工位；检测台上对应温度检测工位、振动干扰可靠性检测工位以及电磁干扰检测工位分别设有温度检测机构、振动检测机构以及电磁干扰检测机构；所述温度检测机构包括加热炉、电源以及示波器；厚膜电路板连接电源以及示波器，并置于加热炉中；本实用新型结构设置巧妙且布局合理，本实用新型设计温度检测工位、振动干扰可靠性检测工位以及电磁干扰检测工位配合温度检测机构、振动检测机构以及电磁干扰检测机构进行厚膜电路板的温度可靠性、振动连接可靠性以及电磁干扰可靠性检测。
基本信息
专利标题 ：
一种厚膜电路性能检测台架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122996165.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-01
授权号 ：
CN216718599U
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
熊良涛涂火军
申请人 ：
武汉钦辰电子有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市庙山办事处邬树村武汉赛鹰汽车配饰工业园车间1栋/单元6层2号1室
代理机构 ：
北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘文骞
优先权 ：
CN202122996165.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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