老化装置

专利权的终止

摘要

一种老化装置，包括老化测试板，所述老化测试板的测试面上设置有若干边缘连接器；连接板，垂直连接在所述边缘连接器上，所述连接板垂直于老化测试板测试面的平面上设置有若干连接插座，用于和需要老化的半导体器件或者COB板进行连接。所述老化装置避免了现有技术中COB板在边缘连接器上的插拔，即使COB板在连接板插座上多次插拔之后损伤连接板插座，也只需要更换连接板即可，提高了同一次进行老化的半导体器件的数量，可以老化不同规格的COB板以及不同规格的半导体器件，提高了老化装置的通用性。

基本信息

专利标题：

老化装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200720144359.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2007-12-13

授权号：

CN201138360Y

授权日：

2008-10-22

发明人：

刘云海覃碨珺简维廷张荣哲

申请人：

中芯国际集成电路制造(上海)有限公司

申请人地址：

201203上海市浦东新区张江路18号

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司

代理人：

李丽

优先权：

CN200720144359.1

主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R31/00 G01R31/26 G01R31/28

相关图片

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/00

电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）

法律状态

2018-01-23 ：

专利权的终止

专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20071213
授权公告日 : 20081022

2012-12-19 ：

专利申请权、专利权的转移

专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101488371106
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2007201443591
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
变更后权利人 : 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 201203 上海市浦东新区张江路18号
变更后权利人 : 100176 北京市经济技术开发区文昌大道18号
登记生效日 : 20121120

2008-10-22 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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1、

CN201138360Y.PDF

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