一种三维测量系统中相移光栅

专利权的终止

摘要

一种三维测量系统中相移光栅，解决产生连续曲线分布的光强条纹。技术方案是，相移光栅有五幅尺寸相同的光栅组成，第一幅为“十字”光栅，第二、三、四幅为相移光栅，第五幅为全白光学玻璃，第二幅相移光栅由平行间隔设置的三个亮条和三个暗条构成一个光栅周期条纹，共设置124个光栅周期，第三幅相移光栅由平行间隔设置的三个亮条和三个暗条构成一个光栅周期条纹，共设置117个光栅周期，第四幅相移光栅由平行间隔设置的三个亮条和三个暗条构成一个光栅周期条纹，共设置110个光栅周期。本实用新型的有益效果是，光栅可实现连续曲线分布的光强条纹，而且对比度高，条纹对环境光不敏感，每幅光栅条纹之间相对位置准确，保证三维测量系统的测量精度。

基本信息

专利标题：

一种三维测量系统中相移光栅

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820091999.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-02-01

授权号：

CN201166716Y

授权日：

2008-12-17

发明人：

程俊廷任常愚赵灿车向前谢雪冬

申请人：

黑龙江科技学院

申请人地址：

150027黑龙江省哈尔滨市松北区糖厂街1号

代理机构：

深圳市智科友专利商标事务所

代理人：

曲家彬

优先权：

CN200820091999.5

主分类号：

G02B5/18

IPC分类号：

G02B5/18 G01B11/24