测量系统及光栅图案阵列
实质审查的生效
摘要

本公开内容的实施方式包括测量系统和光栅图案阵列。测量系统包括多个子系统,用于产生基板上的光栅区域的衍射图案或放大现实图像。测量系统配置为反射和透射光,且经反射和经透射的光束产生衍射图案和放大的图像。衍射图案和图像提供有关光栅区域的光栅间距和角度的信息。设置在基板上的光栅图案阵列包括主要区域和参考区域。参考区域用于定位对应的主要区域。测量系统不包括旋转台,且因此不需要精确控制台的旋转。

基本信息
专利标题 :
测量系统及光栅图案阵列
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114364948A
申请号 :
CN202080064098.0
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2020-08-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
傅晋欣王诣斐徐永安卢多维克·戈代
申请人 :
应用材料公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 :
徐金国
优先权 :
CN202080064098.0
主分类号 :
G01D5/38
IPC分类号 :
G01D5/38  G01B11/02  G01B11/25  G02B5/18  G02B27/01  G03F7/20  G03F9/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D5/00
用于传递传感构件的输出的机械装置;将传感构件的输出变换成不同变量的装置,其中传感构件的形式和特性不限制变换装置;非专用于特定变量的变换器
G01D5/26
采用光学装置,即应用红外光、可见光或紫外光
G01D5/32
利用光束的减弱或者全部或局部的闭塞
G01D5/34
利用光电元件检测光束
G01D5/36
将光线形成脉冲
G01D5/38
用衍射光栅
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01D 5/38
申请日 : 20200825
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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