内挡块类零件测量方法及其测量装置
授权
摘要
本发明提供了一种内挡块类零件测量方法及其测量装置,装置包括倒置的T型块主体、第一柱销、第二柱销、带表高度尺和千分表;倒置的T型块主体的两个肩共面且设为基准面;第一柱销通过过盈配合与倒置的T型块主体连接;第一柱销与内挡块类零件的一个空间孔相匹配;第二柱销与内挡块类零件的另一个空间孔相匹配;测量时,第二柱销搁置在倒置的T型块主体的肩上,第一柱销的中轴线和第二柱销的中轴线共面,且该面与基准面平行;千分表安装在带表高度尺上。本发明解决了内挡块类零件测量时安装定位问题,将被测零件的三维尺寸的计量转换为一个测量平面度的问题,大大降低了测量难度,以基准面为测量基准,提高了测量可靠性。
基本信息
专利标题 :
内挡块类零件测量方法及其测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108895941A
申请号 :
CN201810436074.8
公开(公告)日 :
2018-11-27
申请日 :
2018-05-09
授权号 :
CN108895941B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
梁金华郑凯宋皓刘普林王娜吴怡婷王玮徐雷马琴樱
申请人 :
上海航天精密机械研究所
申请人地址 :
上海市松江区贵德路1号
代理机构 :
上海航天局专利中心
代理人 :
金家山
优先权 :
CN201810436074.8
主分类号 :
G01B5/00
IPC分类号 :
G01B5/00 G01B5/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2022-04-01 :
授权
2018-12-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 5/00
申请日 : 20180509
申请日 : 20180509
2018-11-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载