一种空间带电粒子入射位置及能量探测器和探测方法
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摘要
本发明提出一种空间带电粒子入射位置及能量的探测器，所述探测器包括位置探测单元阵列和后端电路分析处理模块；所述位置探测单元阵列在Y方向和X方向上有若干独立的电荷输出通道，每个电荷输出通道用于在空间带电粒子入射后，在入射位置点的Y方向和X方向上输出不同的电流信号；所述后端电路分析处理模块，对若干电荷输出通道输出的电流信号进行采集，将采集到的电流信号转化为差分电压信号，并将此差分电压信号转换为单端信号进行采集，从而得到带电粒子入射位置和能量。本发明的探测器可以实现对空间带电粒子入射位置的探测，甄别FPGA发生的SEU是否由空间带电粒子引起，并对该空间带电粒子的能量进行检测，为在轨排故提供更加明确的数据支持。
基本信息
专利标题 ：
一种空间带电粒子入射位置及能量探测器和探测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110806597A
申请号 ：
CN201810884231.1
公开（公告）日 ：
2020-02-18
申请日 ：
2018-08-06
授权号 ：
CN110806597B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
张鑫孙越强白超平张申毅张斌全沈国红朱光武陈睿
申请人 ：
中国科学院国家空间科学中心
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村南二条1号
代理机构 ：
北京方安思达知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈琳琳
优先权 ：
CN201810884231.1
主分类号 ：
G01T1/29
IPC分类号 ：
G01T1/29 G01T1/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/29
对辐射束流的测量，例如，测量射束位置或截面；辐射的空间分布的测量
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2020-03-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/29
申请日 : 20180806
申请日 : 20180806
2020-02-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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