脑功能测量装置和脑功能测量方法

授权

摘要

提供一种脑功能测量装置和脑功能测量方法，能够使校准作业变得不需要或者抑制在最小限度。为了解决本技术问题，提供一种脑功能测量装置，具备：第一光照射探头(S1)，向被检体的脑照射光；第一光检测探头(D1)，与第一光照射探头(S1)相邻设置，对从第一光照射探头(S1)所照射的光中被脑反射的光进行检测；第二光照射探头(S2)，与第一光检测探头(D1)相邻设置，向被检体的脑照射光；第二光检测探头(D2)，与第二光照射探头(S2)相邻设置，对从第二光照射探头(S2)所照射的光中被脑反射的光进行检测；以及控制部(3)，对由第二光照射探头(S2)照射的光量进行调节，以使在第一光检测探头(D1)与第二光照射探头(S2)之间的通道所测量到的光量达到在第一光照射探头(S1)与第一光检测探头(D1)之间的通道所观测到的观测值，并且对由第二光检测探头(D2)检测的光量进行调节，以对

基本信息

专利标题：

脑功能测量装置和脑功能测量方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110520057A

申请号：

CN201880024648.9

公开（公告）日：

2019-11-29

申请日：

2018-03-28

授权号：

CN110520057B

授权日：

2022-05-13

发明人：

山田亨

申请人：

国立研究开发法人产业技术综合研究所

申请人地址：

日本东京

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司

代理人：

潘树志

优先权：

CN201880024648.9

主分类号：

A61B10/00

IPC分类号：

A61B10/00