用于表面测量仪的容纳设备
授权
摘要
本发明涉及用于特别是光学的表面测量仪(1)的容纳设备(2)。该容纳设备具有基准测量面(4)，其可被置于遮盖状态中和开放状态中，在遮盖状态中基准测量面相对容纳设备(2)的周围环境得到遮盖，在开放状态中基准测量面相对容纳设备(2)的周围环境未得到遮盖。当表面测量仪(1)容纳在容纳设备(2)中并且基准测量面(4)处于开放状态中时，表面测量仪(1)能实施对基准测量面(4)的基准测量并通过利用该基准测量实施对表面测量仪(1)的校准。而当基准测量面(4)处于遮盖状态中时，它相对容纳设备(2)的周围环境未暴露并且因此得到保护例如免受灰尘、光线、湿气的影响或机械方面的影响。优选通过基准测量面(4)本身的运动或通过用于基准测量面(4)的盖板的运动实现基准测量面(4)的遮盖状态或者开放状态。
基本信息
专利标题 ：
用于表面测量仪的容纳设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110770554A
申请号 ：
CN201880041355.1
公开（公告）日 ：
2020-02-07
申请日 ：
2018-06-15
授权号 ：
CN110770554B
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
彼得·施瓦兹
申请人 ：
毕克-加特纳有限责任公司
申请人地址 ：
德国格雷茨里德
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
王瑞朋
优先权 ：
CN201880041355.1
主分类号 ：
G01J3/52
IPC分类号 ：
G01J3/52 G01N21/27
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/46
颜色的测量；颜色测量装置，例如色度计
G01J3/52
用色图表
法律状态
2022-05-10 ：
授权
2020-03-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/52
申请日 : 20180615
申请日 : 20180615
2020-02-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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