一种快速检测光学膜层节瘤缺陷的装置及方法
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摘要

本发明公开了一种快速检测光学膜层节瘤缺陷的装置,属于光学膜技术领域,包括样品台、三维电动移动平台、成像采集单元和控制分析单元,所述成像采集单元包括一个光源模块和两个成像模块,所述光源模块包括激光器、扩束系统和半透半反反射镜,所述两个成像模块分别是普通显微成像模块和相位成像模块,所述普通显微成像模块包括依次排列的成像物镜、适配器和普通成像相机,所述相位成像模块包括依次排列的成像物镜、适配器和相位成像相机,本发明可以获得节瘤缺陷的三维信息包括纵向信息,可以判断较小尺寸的节瘤缺陷;特别适合特大型高功率激光系统中常用的大口径光学元件膜层缺陷的检测与成像。

基本信息
专利标题 :
一种快速检测光学膜层节瘤缺陷的装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110132993A
申请号 :
CN201910529654.6
公开(公告)日 :
2019-08-16
申请日 :
2019-06-19
授权号 :
CN110132993B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
刘红婕王方朱启华郑天然周丽丹胡东霞袁强袁晓东
申请人 :
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 :
四川省绵阳市绵山路64号
代理机构 :
绵阳市博图知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨晖琼
优先权 :
CN201910529654.6
主分类号 :
G01N21/896
IPC分类号 :
G01N21/896  G01N21/89  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中,例如,纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
G01N21/896
透明材料之中或表面的光学缺陷,例如形变、表面瑕疵
法律状态
2022-04-01 :
授权
2019-09-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/896
申请日 : 20190619
2019-08-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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