一种高分辨率衍射成像方法及装置
授权
摘要

本发明提供一种高分辨率衍射成像方法及装置,包括:步骤S110、根据待测物体的预设透过率函数和预设照明光波函数,以及待测物体与检测器之间的距离,获取所述检测器位置处光的波函数;步骤S120、分离所述检测器位置处光的波函数得到第一振幅和第一相位;步骤S130、根据所述检测器接收到的光强度,以及所述检测器的物理像素和计算样本的尺寸对应关系对所述第一振幅进行修正得到第二振幅;步骤S140、将所述第二振幅与所述第一相位合并形成所述检测器位置处的波前估计;所述计算样本为模拟计算中一个计算像素,所述计算像素的尺寸小于所述检测器的物理像素尺寸。本发明以实现利用像素细分进一步提高重构的图像分辨率,实现弱吸收物体的高对比度高分辨率成像。

基本信息
专利标题 :
一种高分辨率衍射成像方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110411983A
申请号 :
CN201910684751.2
公开(公告)日 :
2019-11-05
申请日 :
2019-07-26
授权号 :
CN110411983B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
张福才王航宇何振飞许文慧
申请人 :
南方科技大学
申请人地址 :
广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
孟金喆
优先权 :
CN201910684751.2
主分类号 :
G01N21/47
IPC分类号 :
G01N21/47  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/47
散射,即漫反射
法律状态
2022-05-27 :
授权
2019-11-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/47
申请日 : 20190726
2019-11-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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