天线装置及测量方法

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摘要

本发明提供天线装置及测量方法。所述天线装置具备电波暗箱(50)，所述电波暗箱(50)具有不受周围电波环境影响的内部空间(51)，所述天线装置还具备：反射器(7)，容纳于所述内部空间，且具有规定的旋转抛物面，通过被试验对象(100)所具备的被试验对象天线(110)发送或接收的无线信号经由该旋转抛物面反射；多个天线(6)，分别与用于测量所述被试验对象的发送及接收特性的多个测量对象频带的无线信号对应；及天线配置构件(60、60A、60B、80)，根据所述测量对象频带，将所述多个天线依次配置于离所述旋转抛物面规定的焦点位置(F)。

基本信息

专利标题：

天线装置及测量方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111244631A

申请号：

CN201910957153.8

公开（公告）日：

2020-06-05

申请日：

2019-10-10

授权号：

CN111244631B

授权日：

2022-05-10

发明人：

丸尾友彦山本绫

申请人：

安立股份有限公司

申请人地址：

日本神奈川县

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

李芳华

优先权：

CN201910957153.8

主分类号：

H01Q1/52

IPC分类号：

H01Q1/52 H01Q19/10 H01Q1/24 H01Q1/36 H01Q3/04 G01R29/10