一种痕量化合物测量装置及其测量方法
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摘要
本发明公开了一种痕量化合物测量装置及其测量方法，包括：电极A、电极B、离子源、阵列检测器和绝缘材料；电极A和电极B相对设置，电极A表面设置有离子引入狭缝，电极B表面设有离子引出狭缝；离子源设置于电极A外侧；阵列检测器设置于电极B外侧；绝缘材料、电极A和电极B形成离子分离通道；离子分离通道前后设气体引入和气体引出接口；离子分离通道中，离子由离子引入狭缝引入，经由离子分离通道后在电场引导下经离子引出狭缝引出在阵列检测器上得到信号。本发明的优点是：从行为学和统计学上验证了实验的准确性。扩展了传统ERP，将诱发电位应用于脑信息加工的研究中。对神经科学的发展具有重要意义。
基本信息
专利标题 ：
一种痕量化合物测量装置及其测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110687192A
申请号 ：
CN201911020675.1
公开（公告）日 ：
2020-01-14
申请日 ：
2019-10-25
授权号 ：
CN110687192B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
刘文杰敬国兴李文山刘文于建娜
申请人 ：
湘潭大学
申请人地址 ：
湖南省湘潭市雨湖区湘潭大学
代理机构 ：
成都方圆聿联专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡文莉
优先权 ：
CN201911020675.1
主分类号 ：
G01N27/64
IPC分类号 ：
G01N27/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/30
•••电极，例如测试电极；半电池
G01N27/60
通过测试静电变量
G01N27/64
利用波或粒子辐射电离气体，例如在电离室内
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2020-02-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 27/64
申请日 : 20191025
申请日 : 20191025
2020-01-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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