高低温环境下细长件端面相对位姿关系测量装置和方法
授权
摘要
本发明公开了一种高低温环境下细长件端面相对位姿关系测量装置和方法，该装置包括：高低温环境温度箱、温度测量与控制系统、导出/导回段控温介质输运管路、扩展控温箱、试件支撑模块、测温传感器、被测试件、左/右侧CCD相机Ⅰ/Ⅱ、左/右侧CCD相机夹持单元、图像采集与处理系统和一体式隔振平台；扩展控温箱和左/右侧CCD相机夹持单元均设置在一体式隔振平台上；被测试件通过支撑模块设置在扩展控温箱内；测温传感器设置在被测试件表面；高低温环境温度箱通过导出/导回段控温介质输运管路与扩展控温箱连通。本发明解决了大型航天器所携带的大型伸展臂、大型展收天线、大型机械臂等细长结构在高低温环境条件下端面相对位姿难以测量的问题。
基本信息
专利标题 ：
高低温环境下细长件端面相对位姿关系测量装置和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110967206A
申请号 ：
CN201911055537.7
公开（公告）日 ：
2020-04-07
申请日 ：
2019-10-31
授权号 ：
CN110967206B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
唐小军邓泉回天力杨凤龙谷振杰
申请人 ：
北京卫星制造厂有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区知春路63号
代理机构 ：
中国航天科技专利中心
代理人 ：
臧春喜
优先权 ：
CN201911055537.7
主分类号 ：
G01M99/00
IPC分类号 ：
G01M99/00 G01B11/16 G01B11/03
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M99/00
本小类其他组中不包括的技术主题
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2020-05-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 99/00
申请日 : 20191031
申请日 : 20191031
2020-04-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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