一种测量云母片厚度的系统及方法
授权
摘要
本发明实施例公开了一种测量云母片厚度的系统及方法，将包括的定标器、测试盒、放射源和计数管依次连接好，将定标器打开进行预热，将标准件云母片样品在测试盒中进行预检，判断定标器是否正常，定标器在工作电压430V，运行10s后，定标器计数在13000‑15000之间，则被测云母片为合格云母片。本发明实施例提供了一种测量云母片厚度的系统及方法，以解决现有技术中由于环境因素影响或仪器调整复杂而导致的测量数据不准确或测量效率低的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种测量云母片厚度的系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111024009A
申请号 ：
CN201911408695.6
公开（公告）日 ：
2020-04-17
申请日 ：
2019-12-31
授权号 ：
CN111024009B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
陈洪涛胡利民曹亮西敏马岩王辉王龙
申请人 ：
北京君融创新科技有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区科技园区超前路5号5幢1层111、112、113室
代理机构 ：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
汤东凤
优先权 ：
CN201911408695.6
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2020-05-12 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 15/02
申请日 : 20191231
申请日 : 20191231
2020-04-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
