一种用于芯片检测的高密度悬臂式探针卡
授权
摘要
本实用新型涉及芯片检测技术领域,公开了一种用于芯片检测的高密度悬臂式探针卡,包括电路板、转接板,转接板的上侧面固定有连接柱,转接板的下侧面上设有探针定位座,探针定位座的下侧面两端均设有定位凸条,定位凸条的下端设有定位斜面,两个定位凸条上的定位斜面呈倒八字分布,定位斜面上设有若干相互平行的探针定位槽,探针定位槽内一一对应设有探针,定位斜面的外侧设有定位压板,定位压板的两端与定位凸条之间螺栓连接,每根探针的头部倾斜朝下,每根探针的尾部均设有柔性导线,柔性导线的另一端与电路板焊接连接。本实用新型具有检测效率高的有益效果。
基本信息
专利标题 :
一种用于芯片检测的高密度悬臂式探针卡
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920524074.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-17
授权号 :
CN209979703U
授权日 :
2020-01-21
发明人 :
汤慧敏张燕
申请人 :
普铄电子(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区富特北路258号第二层M部位
代理机构 :
杭州仁杰专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
沈刚
优先权 :
CN201920524074.3
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067 G01R31/28 G01L1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2020-01-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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