本实用新型公开了一种半导体开短路测试设备，包括测试设备本体，所述测试设备本体的顶部转动连接有支撑柱，所述支撑柱的一侧固定连接有卡块，所述卡块上滑动插设有卡杆，所述测试设备本体的顶部环绕设有与卡杆对应的多个卡槽，所述卡杆靠近测试设备本体的一端固定套接有卡套，所述卡杆远离卡套的一端固定连接有拉杆，所述支撑柱远离卡块的一侧设有滑槽，所述滑槽内转动连接有螺杆，所述螺杆上螺纹套接有支撑板，所述螺杆的一端贯穿滑槽的内顶部并向上延伸，所述螺杆延伸的一端固定连接有旋钮。本实用新型通过多处调节机构的设置，使装置可以很好的对半导体进行固定调节，从而提升了测试设备的检测效率。