本实用新型涉及半导体领域，具体为一种半导体测试设备，包括测试装置，测试装置包括横向滑杆、竖向滑杆、前挡板、后挡板、第一底板以及第二底板，第一底板上设有连接槽，第二底板位于连接槽内，且与连接槽滑动连接，通过转动第一底板以及第二底板底部水平调节杆上的调节螺母，对位于安装槽的基座进行微调，使基座保持在水平状态，使探测头与半导体连接的更加稳定，将第二底板在第一底板内的连接槽内滑动连接调节第一底板与第二底板安装槽的尺寸，并根据半导体的尺寸匹配调节，提高测试装置的测试效果，在测试时通过滑动电机带动检测探头在横向滑杆以及竖向滑杆的滑槽内移动，对半导体的外观进行图像采集，提高对半导体检测的效率。