一种具有转接板的半导体测试板及半导体测试设备
授权
摘要

本申请涉及一种具有转接板的半导体测试板及半导体测试设备,属于半导体测试技术领域,半导体测试板包括:半导体测试基板,其设有测试接口;转接板,转接板包括转接基板,所述转接基板上设有相互信号连接的第一连接器和第二连接器;所述第一连接器与所述测试接口可拆卸连接,所述第二连接器用于与外部测试设备可拆卸连接。本申请的半导体测试板设置了转接板,半导体测试基板的测试接口与转接板的第一连接器可拆卸连接,转接板通过第二连接器与外部测试设备进行插接。在第二连接器的插拔次数达到使用寿命时,只需半导体测试板更换新的转接板即可,提高了半导体测试板的使用寿命。本申请还公开了一种半导体测试设备。

基本信息
专利标题 :
一种具有转接板的半导体测试板及半导体测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022003569.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-14
授权号 :
CN211785921U
授权日 :
2020-10-27
发明人 :
曹锐杜建裴敬邓标华
申请人 :
武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 :
武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
唐勇
优先权 :
CN202022003569.7
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-10-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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