本实用新型公开了一种半导体测试设备，其结构包括，机箱、箱壁开关、箱盖，工作台、玻璃窗、警报灯、配电箱、电线、传电轴、开关按钮、显示屏、控制面板，机箱右侧设有箱壁开关，箱盖设于工作台的外边并将其进行覆盖，玻璃窗设于箱盖的中间位置，警报灯设于机箱的上端，配电箱设于机箱的下方，电线设于配电箱的上端，传电轴通过电线与配电箱相连接并进行电力配合，本实用新型通过吸尘器、灰尘箱和工作台伸缩杆的相互配合，使要测试半导体成品的时候工作台能够将成品升到吸尘器的入口，使成品能够被吸尘器进行吸收然后利用阻挡布使半导体不会随着灰尘一同被吸收到灰尘箱内部，使半导体能够被灰尘箱进行无死角的清理。